2018,01,10
分光エリプソメーターは、材料の屈折率や消衰係数、薄膜の膜厚を非破壊で精度良く測定することができる装置です。また、近年技術の向上により、屈折率や膜厚だけではなく、様々な材料物性に関する情報を得ることができるようになりつつあります。
本セミナーでは、エリプソメトリーの基本原理の解説に加えて、分光エリプソメーターを用いた実際の測定やその活用事例を丁寧に紹介いたします。
■日時:平成30年2月20日(火)13:20~16:50
■会場:大阪産業技術研究所 森之宮センター 小講堂(大阪市城東区森之宮1-6-50)
■定員:20名
■受講費:無料
■主催:(地独)大阪産業技術研究所
■プログラム等詳細は、こちらをご確認ください
■申込み・お問合せ先
(地独)大阪産業技術研究所 和泉センター 業務推進部(TEL:0725-51-2512)
※ お申し込みはメール(gyoumu_seminar@tri-osaka.jp)
またはFAX(0725-51-2520)でお願いします。
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