堀場雅夫賞は、国内外の大学または公的機関において、計測およびその応用に関する科学技術分野で顕著な業績を挙げつつある、将来性のある研究者・技術者を奨励表彰する賞です。

　2023年は、「次世代半導体デバイスの開発に貢献する分析・計測技術」が募集テーマです。多くの皆様からのご応募をお待ちしています。 　

■対象技術分野：

1)次世代のパワーデバイスや光エレクトロニクスデバイスの実現に必要となる新規構造・新規材料の開発やデバイスの試作、生産プロセスおよびデバイスの実装工程の確立に寄与する分析・計測技術

2)光電融合プロセッサや量子コンピューティングの早期実現に寄与する分析・計測技術

＊分析・計測の対象は将来の発展性が期待される化合物半導体を用いたデバイスに加え、革新的なシリコン半導体デバイスも含みます。

■募集期間： 2023年3月15日～5月12日

■応募条件・方法：公式サイトをご覧ください。http://www.mh-award.org/

詳細は、以下をご覧ください。

https://www.mh-award.org/apply 　

※本賞に関するお問い合わせ先

（株）堀場製作所内 堀場雅夫賞事務局 info@mh-award.org